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基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用
2017-11-07 14:03:05 来源：
- 基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别
- 全自动盘料点数机原理：
- 局限性：
（2）若封装空间里没有物料，此种方法会出现误判，从而影响点数精确度。
X-Ray点料方法：
利用X光大角度透视的原理，得到盘料的X-Ray图像，通过软件分析，得到计数结果，相比传统的点料方式，大大的提高了工作效率，节约人工成本。原理示意图
物料料盘
X射线图像和软件分析结果- 我司可以提供的产品
CMOS平板探测器，我们提供多种感应面积供选择，有12cmx7cm; 15cmx12cm; 23cmx7cm; 23cmx15cm; 29cmx23cm.*小像元尺寸75um。
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北京先锋泰坦科技有限公司
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