• 激光粒度分析仪

    详细信息

     品牌:大塚电子  加工定制:是  型号:ELSZ  
     类型:激光  测量范围:0.3nm-10微米 um 测量准确度:参考说明书 % 
     测量重复性:±3 % 测量时间:1 s  
    激光粒度分析仪产品简介
    激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。
     
    激光粒度分析仪产品特点
    1. 通过*新型的高感度APD提高感光度,成功的缩短测试时间
    2. 搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性,相变温度。
    3. 可测量0~90摄氏度宽阔的温度范围
    4. 增加了大范围分子量测定及解析功能
    5. 可测量悬浊的高浓度样本粒径,界达电位
    6. 对应小尺寸样本平板界达电位测量
     
    应用
    1. 纳米生物,医药领域
    2. 纳米材料,新机能性材料领域
    3. 食品,化妆品领域
    4. 高分子,化学工业领域
    5. 精密陶瓷,颜料工业领域
    6. 半导体领域 
    激光粒度分析仪ELSZ规格表
      界达电位(ZS,Z) 粒径(ZS,S) 分子量(ZS,Z)
    量测原理 电泳光散射法(Laser Doppler) 动态光散射法(DLS) 静态光散射法(SLS)
    光学系统 外差法光学系统 等差法光学系统
    双雷射光源 半导体雷射(660 nm, 30 mW) 半导体雷射(660 nm, 70 mW)
    感光组件 高感度APD
    样品容器 标准矩形流道容器 四角形样品容器
    高浓度容器
    量测范围 ±200 mV 0.6nm~10μm 360 ~20000000 Mw
    量测浓度 0.001~ 40% 0.00001~ 40% -
    量测样品型式 液态样品
    平面及薄膜状固态表面
    液态样品 液态样品
    温控 0~90℃ (分辨率0.1℃)
     
     
    软硬件功能
    固态样品界达电位量测
    (样品大小 15mm*35mm)
    STAGE可动扫描水平面位移界达电位解析
    (Smoluchowski公式, Huckel公式)
    电泳解析(森&冈本公式)
    pH滴定解析(等电点解析)
    界达电位迭图功能
    平均粒径解析(Cumulant法) 粒度分布解析
    (Marquardt法/NNLS法
    Contin法/Unimodal法)
    STAGE可动改变量测点逆函数&残差显示功能粒径监控功能
    粒径显示范围(0.1 nm~106nm)
     
     
    分子量解析(Debye法) 第二维里系数
    惯性半径补正功能
     
    自动滴定仪
    pH 1~13
    强酸/强碱/添加剂三管独立注射滴定分辨率 0.1μL
    滴定模式添加剂模式循环模式
     
    -
    电源 100 V ± 10 V, 50/60 Hz, 250 VA
     
     
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