OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
详细信息
| 品牌:TEO | | 型号:OLED/QLED | | 加工定制:是 | |
| 类型:参考说明 | | 测量范围:参考说明书 | | 分辨率:参考说明书 | |
| 取样率:参考技术参数 | | 精确度:参考说明书 | | 解析度:参考技术参数 | |
| 电源:参考技术参数 | | 尺寸:参考说明书 mm | | | |
OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
32 路系统 64 路系统
项目 |
关键指标 |
备注 |
通道数量 |
32、64、128 |
可扩展到512 路 |
测量模式1 |
恒流、恒压、恒亮度 |
需根据客户需求选定 |
测量模式2 |
Pulse 电压、Pulse 电流 |
选配 |
电流输出 |
0.03uA~100mA,精度优于±1% |
用户参照核心技术电流源选配 |
电压输出
饱和亮度 |
1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上 |
标配
可根据客户需求定制 |
器件结构 |
底发光、顶发光、倒装、正装 |
需根据用户需求定制 |
测试盒/ 夹具 |
测试基片尺寸 5cm×5cm |
可定制支持20cm×20cm |
高温测试 |
RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试 |
选配 |
特殊条件 |
特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源等 |
选配、定制 |
软件平台 |
LabView |
稳定、高效 |