• OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

    详细信息

     品牌:TEO  型号:OLED/QLED  加工定制:是  
     类型:参考说明  测量范围:参考说明书  分辨率:参考说明书  
     取样率:参考技术参数  精确度:参考说明书  解析度:参考技术参数  
     电源:参考技术参数  尺寸:参考说明书 mm  
    OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
     
    32 路系统 64 路系统
    项目 关键指标 备注
    通道数量 32、64、128 可扩展到512 路
    测量模式1 恒流、恒压、恒亮度 需根据客户需求选定
    测量模式2 Pulse 电压、Pulse 电流 选配
    电流输出 0.03uA~100mA,精度优于±1% 用户参照核心技术电流源选配
    电压输出
    饱和亮度
    1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上 标配
    可根据客户需求定制
    器件结构 底发光、顶发光、倒装、正装 需根据用户需求定制
    测试盒/ 夹具 测试基片尺寸 5cm×5cm 可定制支持20cm×20cm
    高温测试 RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试 选配
    特殊条件 特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源等 选配、定制
    软件平台 LabView 稳定、高效
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