Andor SX系列真空腔内式光谱CCD探测器,采用背感光、前感光以及深耗尽型CCD芯片可以对软X射线到真空紫外波段的光子进行直接探测。芯片规格主要有1024*256以及2048*512两种。为了保证探测的灵敏度,CCD探测器同样采用半导体深度制冷,制冷温度*低可达-70°C。真空度可支持10-5mbar及更低。
主要特点:
真空环境下使用:可放置在真空腔内,便于调节CCD与信号源之间的距离,优化探测距离。
高量子效率探测器:峰值量子效率高达95%
高强度封装信号线:电源线及PCI信号线采用高强度密封,能够很好的在真空等特殊环境下稳定工作。
集成滤光片卡槽:方便直接安装各种实验需要的滤光片
半导体深度制冷:保证探测灵敏度
主要技术参数:
芯片类型 |
DX420 |
DX420”DD” |
DX440 |
有效像素 |
1024 x 255 |
1024 x 256 |
2048 x 512 |
像素尺寸 |
26 x 26 μm |
26 x 26 μm |
13.5 x 13.5 μm |
探测面尺寸 |
26.6 x 6.7 mm |
26.6 x 6.7 mm |
27.6 x 6.9 mm |
满井容量 |
100,000 e- |
140,000 e- |
600,000 e- |
*低制冷温度 |
-70°C |
读出噪声@1MHz |
18 |
18 |
7 |
真空度 |
10-5mbar及以下 |