• 激光诱导击穿光谱分析仪

    详细信息

     品牌:Spectral Industries  加工定制:否  型号:SPECTRAL LIBS  
     光源:参考说明书  波长范围:参考说明书 nm 焦距:参考说明书 mm 
     外形尺寸:参考说明书 mm 重量:参考技术参数 g 适用范围:参考技术参数  

     

    LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy (激光诱导击穿光谱仪)的简称,该技术通过超短脉冲激光聚焦样品表面形成等离子体,利用光谱仪对等离子体发射光谱进行分析,以此来识别样品中的元素组成成分,进而可以进行材料的识别、分类、定性以及定量分析。

     

    自从LIBS技术问世以来,该技术就被公认为是一种前景广阔的新技术,将为分析领域带来众多的创新应用。LIBS作为一种新的材料识别及定量分析技术,既可以用于实验室,也可以应用于工业现场的在线检测;

     

    LIBS弥补了传统元素分析方法的不足,尤其在微小区域材料分析、镀层/薄膜分析、缺陷检测、珠宝鉴定、法医证据鉴定、粉末材料分析、合金分析等应用领域优势明显,同时,LIBS还可以广泛适用于地质、煤炭、冶金、制药、环境、科研等不同领域的应用。

     

    除了传统的实验室的应用,LIBS还是为数不多的可以做成便携装置的元素分析技术,更是目前为止被认为可以做在线分析的元素分析技术。这将使分析技术从实验室领域*地拓展到户外、现场、甚至生产工艺过程中;

     

    Spectral Industries 推出的全新时间门控LIBS测量系统,是一套高效,功能强大,通用型强的LIBS测量系统,无论在实验室或户外操作,均可完美应对各种测试环境,甚至其IRIS 光谱仪可用于空间环境!

    LIBS激光诱导击穿光谱分析仪具有如下特点及优势: 

    超高数值孔径(F/2)基于独特设计的IRIS 中阶梯光栅光谱仪的其LIBS系统可以获得优于其他对手的优质信噪比;

    使用中阶梯光谱仪: 兼顾高分辨率(0.1-0.4nm)及宽的光谱覆盖范围180-800nm,880-1100nm;

    配备高效光学激光聚焦及信号收集系统:可以获得更低的探测极限以及更短的积分时间;

    使用优选的全自动控制的激光源以及3轴电动位移台: 软件全自动控制,协调工作,同时保持OEM定制灵活性;

    <10ns 精确时延抖动: 有效避免韧致辐射背景噪声干扰;

    灵活小巧一体化的设计:不但适合实验室使用,同样适合工业设备的集成;强大的设计提供非常低的温度影响,使其能够承受恶劣的环境,同时可任意方向安装,以任何想要的方向来对准样品,不受场地及环境限制;

     LIBS激光诱导击穿光谱分析仪

    Spectral Industries 的全套LIBS 系统包括:

    l IRIS 中阶梯光栅光谱仪

    l 纳秒脉冲主动调Q激光器

    l 用于门控LIBS 测量的脉冲延迟发射器

    l 激光聚焦及信号收集光学系统

    l 自动控制-3轴电动位移台

    l 软件—全硬件控制,Matlab数据处理作图;

    LIBS 系统(未包括谱仪及样品台)

     IRIS 中阶梯光谱仪

    SPECTRAL LIBS 系统指标参数

    光谱仪

    IRIS UV(200-800nm)or IRIS-DUV(氮气吹扫180-800nm,880-1100nm)

    光谱仪

    光学系统

    高效激光聚焦及信号收集光学系统

    激光器

    可选择不同单脉冲能量及频率的 主动调Q 纳秒脉冲激光器

    脉冲延迟发生器

    <10 ns抖动 ,100ns 时间延迟步距调整

    位移台

    3轴电动位移台,50*50mm移动范围;(其他尺寸可选)

    气体吹扫

    吹扫接口阀门适用于深紫外测试:<200nm波段;

    工作距离

    > 50-500 mm (更大距离可选)

    激光聚焦光斑尺寸

    <=100 µm

     

    IRIS 中阶梯光谱仪参数指标

    光谱范围

    180 - 800 nm and 880-1100nm (包括吹扫选项)

    光谱分辨率

    0.1 - 0.45 nm (@ 180-800 nm, for 25 µm wide slit)

    F-数值孔径

    f/2

    狭缝尺寸

    25 x 100 µm(其他尺寸可选: 10 x 100 µm2 and 50 x 100 µm2) 

    波长稳定性

    < 5 pm/K

    尺寸

    220 x 195 x 80 mm3 (包括相机)

    重量

    3 kg (包括相机)

    相机

    CMOS 探测器 (深紫外增强型),积分时间28 µs – 30 s

     LIBS 系统元素探测极限(部分)

      

    典型现场应用案例

     

    实验室矿石表面Mapping分析

    --钻孔岩心棒元素分布2D图谱

     

    --锂矿岩石表面元素分布图

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